型號：AOD3700型​

一、AOD3700型X射線衍射儀（XRD）采用了一維陣列探測器，測試結果更加精，大大縮短了測試時間。

《X射線衍射儀》技術參數要求：

1 X射線發生器部分               

1.1額定輸出功率：5kW；

1.2管電壓：10~60kV    1kV/step；

1.3管電流：2~80mA 1mA/step；           

1.4管電壓、管電流穩定度：≤0.005%；

1.5有過壓、過流、過功率、無壓、無水、循環水超溫等保護；

1.6kV、mA升降，光閘開關由微機控制功能；

1.7 X射線管：波紋陶瓷或金屬陶瓷、Cu靶、焦點1×10mm2（0.4×12mm2）、功率 2.4kW。

★2 測角儀及控制部分

2.1衍射圓半徑：樣品水平θ—θ結構，衍射圓半徑150mm~285mm（連續可調）；

2.2掃描方式：連續、步進、透射、Omg掃描方式，θs、θd臂單動或聯動；

2.3采用分動控制；采用伺服電機，光學編碼技術控制測角儀轉動，自動消空程、角度校正；角度定位速度：1500˚/min；

2.4測量方式：常規衍射或透射方式；

2.5測量范圍： 2θ：-30 ˚—161˚；

2.6角度轉動范圍：θs：-15 ˚—200 ˚，θd：-105 ˚—150 ˚

2.5連續掃描速度：：0.0012—120˚/min；

2.6小步寬角度：0.0001˚；

2.7 2θ角度重復精度：0.0001˚；

2.8 全譜圖2θ角線性精度：≤±0.01˚。

★3記錄控制單元（觸摸屏，且采用PLC控制線路）

3.1測角儀及X射線發生器自動控制；

3.2探測器：陣列探測器；

線性計數率：1*109cps，無噪音；動態范圍：（bit）24; 

通道數：640; 通道寬：（um）50;

能量分辨率（eV）：687±5; 讀出時間(us)： 89；

能譜范圍（KeV）：4-40；冷卻模式:空氣風冷;

2Theta覆蓋角度: >4.5度;操作使用環境:0℃到+50℃.

3.3測量標準樣品si粉，采樣時間0.1秒，步寬角度0.01 ˚時，主峰28.442 ˚的半峰寬優于0.075，且主峰分辨率≤85%。

3.4樣品測試速度是傳統探測器的幾十倍以上。

 4 工作站部分：雙核、內存≥4G、硬盤≥500G、獨立顯卡、≥22寸LED, A4幅面數據輸出設備。

★5 射線防護及報警裝置

5.1鉛+鉛玻璃防護，具有射線防護門禁開功能，光閘窗口與防護罩連鎖，防護罩外射線計量不大于0.1μSv/h；

5.2防護標準：防護標準達到GBZ115-2002《X射線衍射儀和熒光分析儀衛生防護標準》的要求。取得省級或以上環保部門頒發的輻射安全許可證。X射線泄漏量≤0.1μSv/h。

6衍射儀控制、數據處理軟件

6.1支持Windows7操作系統的控制及應用軟件；

6.2自動控制X射線發生器的管電壓、管電流、光閘及射線管老化訓練；

6.3控制測角儀連續或步進掃描，同時進行衍射數據采集；

6.4對衍射數據進行常規處理：自動尋峰、手動尋峰、積分強度、峰高、重心、背景扣除、平滑、峰形放大、譜圖對比。.   

7應用軟件部分：物相定性、定量分析、Kα1、α2剝離、全譜圖擬合、選峰擬合、半高寬和晶粒尺寸計算、晶胞測定、二類應力計算、衍射線條指標化、多重繪圖、3D繪圖、衍射數據校準、背景扣除、無標樣定量分析等功能、全譜圖擬合（WPF）、XRD衍射譜圖模擬。

8整機綜合穩定度：≤0.3% 。

更新時間：2024/12/25 14:42:00