一、產品簡介

測量光致非線性折射率是研究介質三階非線性光學性質的重要手段，而測量非線性折射率的方法已有很多：非線性干涉技術、簡并四波混頻、自衍射、橢偏術及光束畸變測量等。20世紀90年代初發展起了一種Z掃描法，這種測量方法不僅可以用單光束測量，而且可以用同一裝置測出非線性折射率和非線性吸收系數，即三階非線性極化率的實部和虛部，因而受到人們的青睞。

二、知識點

    非線性吸收、三階非線性效應、光克爾效應、光束的自聚焦

三、涉及課程

非線性光學、光電檢測、工程光學、應用光學、物理光學

四、實驗內容

      1、  Z掃描法測量非線性折射率系數

            2、Z掃描法測量非線性吸收系數ZSM-B 三階非線性極化率的Z掃描法參數測量實驗系統