一、產(chǎn)品簡介

實際光學(xué)系統(tǒng)成像與理想光學(xué)系統(tǒng)成像之間的差異稱為像差，該參數(shù)主要用于評價光學(xué)系統(tǒng)的成像質(zhì)量；根據(jù)幾何光學(xué)的觀點，光學(xué)系統(tǒng)的理想狀況是點物成點像，即物空間一點發(fā)出的光能量在像空間也集中在一點上，但由于像差的存在，在實際中是不可能的。評價一個光學(xué)系統(tǒng)像質(zhì)優(yōu)劣的根據(jù)是物空間一點發(fā)出的光能量在像空間的分布情況。在傳統(tǒng)的像質(zhì)評價中，人們先后提出了許多像質(zhì)評價的方法，其中用得廣泛的有分辨率法、星點法和陰影法（刀口法）。

光學(xué)系統(tǒng)像質(zhì)評價工程上主要采用分辨率法和光學(xué)傳遞函數(shù)(MTF)測量法。分辨率法測量多用于大像差系統(tǒng)，實驗簡便直觀；MTF測量法適用于一些高分辨率的光學(xué)系統(tǒng)。以上兩種測量方法已廣泛應(yīng)用于工程實踐中。

二、知識點

光學(xué)系統(tǒng)的球差、彗差、場曲、象散、色差、分辨力、瑞利判據(jù)、光學(xué)傳遞函數(shù)（OTF）、調(diào)制傳遞函數(shù)（MTF）、線擴(kuò)散函數(shù)、空間頻率、截止頻率、調(diào)制度、國標(biāo)分辨力板、焦距測量、鏡頭設(shè)計、星點法、刀口陰影法、剪切干涉法

三、涉及課程

光學(xué)、幾何光學(xué)、工程光學(xué)、信息光學(xué)、應(yīng)用光學(xué)、光學(xué)設(shè)計、光學(xué)系統(tǒng)設(shè)計、Zemax及在光電類課程中的應(yīng)用、光電檢測技術(shù)

四、實驗內(nèi)容

    1、  光學(xué)系統(tǒng)像差的計算機(jī)模擬

    2、  平行光管的調(diào)整使用及薄透鏡焦距測量實驗

    3、  星點法觀測光學(xué)系統(tǒng)單色像差實驗

    4、  分辨力板直讀法測量光學(xué)系統(tǒng)分辨率

    5、  利用變頻朗奇光柵測量光學(xué)系統(tǒng)MTF值實驗

    6、  基于線擴(kuò)散函數(shù)測量光學(xué)系統(tǒng)MTF值

    7、  刀口儀陰影法原理及陰影法測量光學(xué)系統(tǒng)像差實驗（選配）

    8、  剪切干涉測量光學(xué)系統(tǒng)像差實驗（選配）XCCHJJ-B 光學(xué)系統(tǒng)像差傳函焦距測量綜合實驗裝置