​多功能數字式方阻測試儀是運用方形四探針Keywell測量原理的多用途綜合測量裝置，它與直線四探針相比，消除了探針游離對測試結果的不利影響，大大提高精度，并提高微區測試能力，

它可以測量片狀、塊狀半導體材料的電阻率，擴散層的薄層電阻（亦稱方塊電阻）。也可測柔性導電薄膜和玻璃等硬基底上導電膜的方塊電阻（簡稱方阻），換上四端子測試夾具，還可對電阻器體電阻、金屬導體的低、中值電阻以及開關類接觸電阻進行測量。

本測試儀特贈設測試結果分類功能，大分類10類

儀器所有參數設定、功能轉換全部采用數字化鍵盤輸入；具有零位、滿度自校功能；自動轉換量程；測試探頭采用寶石導向軸套和高耐磨碳化鎢探針制成，故定位準、游移率小、壽命長；測試結果由數字表頭直接顯示。

三、基本技術參數 

1.測量范圍、分辨率

電    阻：     1.0×10-3～ 200.0×103 Ω,    分辨率0.1×10-3～ 0.1×103 Ω

電 阻 率：     1.0×10-3～ 20.0×103Ω-cm  分辨率0.1×10-3～ 0.1×103 Ω-cm

方塊電阻：     1.0×10-3～ 20.0×103Ω/□  分辨率1.0×10-3～ 0.1×103 Ω/□

2.可測半導體材料尺寸

直        徑：  測試臺直接測試方式 Φ15～130mm，其他方式不限.

長（或高）度：  測試臺直接測試方式 H≤160mm,    其他方式不限.

3.量程劃分及誤差等級

4)工作電源：220V±10％, f=50Hz±4％,PW≤5W

5)外形尺寸：W×H×L=20cm×7.5cm×18cm

凈   重：≤1kg

更新時間：2024/11/5 9:23:21