10-1系列標準塞規式測量系統

DIATEST塞規式測量系統特有的導向體設計，保證了測量結果的可能性，解決了孔徑測量的對中難題，限度減少了人為因素測量結果的影響，可方便、快速、準得出測量結果。

測頭為非標定制，按圖紙及使用要求加工制作！

多種手柄選擇，具有隔熱功能避免手溫影響測量結果

• 1.塞規式測量系統是直接測量嗎?

  答：比較法測量，需要配校對環規。使用校對環規進行零點校準，校對環規的尺寸與孔的***小尺寸相關，如此可以保在校準過程中大的減小的軸向和徑向的誤差。遵循DIN2250-C標準的環規是***適合的校對環規，較大尺寸的環規或***小尺寸、中間尺寸和尺寸的校對環規通常是不需要的。

• 2.塞規式測量儀的測量范圍是多少？

  塞規式測量儀的測量范圍適用于2.0mm-330mm，但是并不是說個測頭就可以適用這么大的范圍。塞規式測頭是對的，例如您測量10mm，那您就需要選擇個10mm的測頭測量，單個測頭的標準測量范圍根據具體尺寸會有不同：2.0-9.0mm（4系列）的測量范圍是0.1mm、7.0-20.0mm（6系列）的測量范圍是0.15mm，20-330mm（10系列）的測量范圍是0.2mm。

• 3.測量范圍是固定的嗎？

  塞規式測量儀的測量范圍適用于2.0mm-330mm，但是并不是說個測頭就可以適用這么大的范圍。塞規式測頭是對的，例如您測量10mm，那您就需要選擇個10mm的測頭測量，單個測頭的標準測量范圍根據具體尺寸會有不同：2.0-9.0mm（4系列）的測量范圍是0.1mm、7.0-20.0mm（6系列）的測量范圍是0.15mm，20-330mm（10系列）的測量范圍是0.2mm。

• 4.選擇測頭尺寸時，怎樣保選擇尺寸的正性，能保證肯定滿足測量嗎？

  選擇測頭尺寸時，請您提供工件的公差帶及孔的形式。測頭的尺寸是按照公差帶的下限選定的。具體生產的測頭尺寸會按照您公差帶下限進行加工，加工時的公差帶都是減公差，保證測頭能放到工件內進行測量。

• 5.塞規式測量儀測頭的形式如何選擇？

  塞規式測頭般分為標準孔測頭、通孔測頭和盲孔測頭。您可以根據要測量孔的深度來定塞規頭的形式，如果要測量位置非�？拷�根部，可以選用盲孔測頭；如果是盲孔，但是不要求測點位置很低，那標準測頭就可以滿足要求；如果要測量通孔的孔口位置，選用通孔測頭。根據測量需求的不同，我們還有其他形式的測頭，如加長導向體測頭、自動測量用測頭等。

• 6.塞規式測頭的測點是什么材質的？

  如無特殊說明，塞規式測頭的測點是硬質合金材質的。根據測量工件的材質不同，我們可以提供陶瓷測點、紅寶石測點、鉆石測頭、塑料測點等等以滿足客戶的不同測量需求。

• 7.塞規式測量儀需要其他附件嗎？

  塞規式測量儀的標準構成是手柄、顯示表、塞規式測頭和校對環規。根據客戶測量需要和環境的不同，我們可以提供標準附件延長桿以加大測量深度、也可以提供深度限位實現方便測量。同時我們也有電子手柄可以接傳感器，可以實現臺式測量等。塞規式測量儀的柔性很好，可以滿足不同的測量需求。

• 8.測量數據可以傳輸給電腦嗎？

  可以。該系統可以通過有線或無線兩種方式把測量數據傳輸給計算機、電子柱、電箱、Metro的M3顯示儀及其它顯示裝置，并生成SPC圖形。

導向體根據被測工件制定是BMD測頭的精度來源。

測量結果準可靠不受人為因素影響

可提供刻字服務如客戶的特定ID號、公差等

更新時間：2024/12/25 15:59:12